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Amkor开发最新RF器件测试系统

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来源: 作者: 2019-05-16 23:58:10

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Amkor Technology (Nasdaq:AMKR) 引进最新RF器件测试系统,有效地把测试时间减少达80%。

此系统主要以一个基础软件优化标准工业工具系统来缩短测试时间。例如为双频功率放大器(PA)的RF测试,使用一般的ATE测试仪通常需要1.8秒,但采取Amkor的全新测试方案组图:警营双胞胎兄弟的“橄榄梦”
只需470毫秒(ms)。低噪声放大器(LNA)以一般ATE测试器进行测试需1.3秒,新系统只需170ms。新系统除缩短测深圳地铁列车末节车厢掉道 无人员伤亡
试时间,购置成本亦远比其他同类型产品为低。

据Amkor全球测试服务部副总裁Joe Holt表示,Amkor一直致力为客户提高技术质素的同时不断减低本钱,新设备正好具有这些条件,在一些情况下,测试时间和成本减少能令整体测试成本下降80%。

Amkor的新测试系统只用作测试客户产品,不会对外销售。

除上述的LNA和PA,新系统亦可用作高量测试如混合器、RF开关、相位同步回路和电压控制发生器等。而根据业内市场分折机构IC Insight, Inc表示,2004年所有无线和活动通讯器件包括基站和转换系统市场将增加一倍。

Amkor 为所有半导体技术范围提供全面的测试开发和高量产服务,并於美国加州圣荷西、肯萨斯州Wichita、阿□桑拿Chandler、韩国、日本和菲律宾设有测试开发中心,并不断扩充中国大陆和台湾的装备供应。

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